GB/T 14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
作者:标准资料网 时间:2024-04-30 05:23:22 浏览:9713
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基本信息
| 标准名称： | 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 |
| 英文名称： | Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits |
| 中标分类： | |
| ICS分类： | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1993-09-03 |
| 实施日期： | 1993-01-02 |
| 首发日期： | 1993-09-03 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 国营七九九厂 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-08-22 |
| 页数： | 平装16开， 页数：9， 字数：12千字 |
| 书号： | 155066.1-10699 |
适用范围
本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片，片状件用氧化铝陶瓷基片亦可参照使用。
前言
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目录
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所属分类： 电子学 集成电路 微电子学
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