BS DD ENV 50219-1996 欧洲微型试验芯片可靠性试验结构的描述

作者:标准资料网时间:2024-05-16 07:15:50 浏览:8187 来源:标准资料网

【英文标准名称】:DescriptionofthereliabilityteststructuresoftheEuropeanminitestchip
【原文标准名称】:欧洲微型试验芯片可靠性试验结构的描述
【标准号】:BSDDENV50219-1996
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1996-09-15
【实施或试行日期】:1996-09-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;芯片;MOS电路;可靠性试验;电子设备及元件;自动化
【英文主题词】:Automation;Chips;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;MOScircuits;PTC;Reliabilitytesting
【摘要】:DocumentstheparametrizedteststructuresoftheJESSIReliabilityTestChip(RTC)whichispartoftheEuropeanMiniTestChip(ETC).
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:42P.;A4
【正文语种】:英语

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